一、主要實(shí)驗內容

本實(shí)驗裝置可開(kāi)設實(shí)驗內容：透鏡焦距測量、測量激光波長(cháng)，測量細絲直徑，單縫衍射，雙縫衍射，圓孔衍射，光柵衍射，光的偏振現象，偏振光的特性研究等基礎實(shí)驗?？梢愿鶕脩?hù)要求增加實(shí)驗內容。

二、主要技術(shù)特點(diǎn)：

1、光具座采用高強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成，儀器質(zhì)量輕，使用體積小，不生銹，放置平穩，大大方便教學(xué)實(shí)驗。

2、配有垂直水平轉動(dòng)的多種刻度盤(pán)，方便學(xué)生進(jìn)行各種光學(xué)角度的測量。

3、光功率計采用數字式測量偏振光的光強，使偏振光實(shí)驗數據準確、可靠。

4、在本儀器的基礎上，再加上一些光學(xué)配件，可使實(shí)驗范圍大大擴展。

三、主要技術(shù)參數
1、光具座：長(cháng)度100.0cm，分度值1mm（可為用戶(hù)特制尺寸）。

2、光源：半導體激光器，波長(cháng)650nm，工作電壓5V；帶花形標記和高強度半導體白熾發(fā)光器，工作電壓5V；

3、帶轉盤(pán)的偏振片1個(gè)分辨率2°。四分之一、二分之一波片各1個(gè)分辨率1°。

4、FB180光功率計，量程四檔:分別為20μW、200μW、2mW和20mW，數字按鍵換擋，三位半液晶顯示。；電光晶體采用：LiNbO3晶體，電極晶體：Z軸通光，X軸加電場(chǎng)；透光波段：370～5000nm。三維晶體測試架。

5、光功率計探頭1只，帶通光旋轉盤(pán)，單縫濾光孔0.2mm、0.35mm、0.6mm和0.9mm，圓孔濾光孔 ∅3、∅5和∅8；
6、凸透鏡：f=50mm和f=100mm各1個(gè)；凹透鏡：f=-100mm 一個(gè)；

7、平行白光源支架和平行白光光源1臺；

8、波片：1/2λ波片和1/4λ波片各1片，

9、二維調節架：上下0～30mm可調，左右0～55mm可調，帶標尺。

10、白屏與成像物各1只。

11、儀器含單縫、單絲、光柵、雙縫、圓孔等模板。

12、可調狹縫：0～5mm可調，最小分辨率0.02mm。

13、儀器由：光學(xué)導軌、光學(xué)配件、光具座滑塊、光功率計、半導體激光器等組成。 

注：已上參數為本儀器的基礎配置，可按用戶(hù)要求配置。具體已實(shí)際參數為準。